關鍵詞：BX-G2502高性能便攜式超聲波檢測儀
全自動超聲波探傷儀  超聲波檢測儀  多功能超聲波檢測儀  多用途超聲波檢測儀

■儀器特點：

A 高性能便攜式超聲波檢測儀特優(yōu)點

→ 全中文菜單式友好操作界面，方便快捷；

→ 亮彩色液晶顯示，可根據(jù)不同現(xiàn)場環(huán)境改變；

→ 超聲衍射波成像檢測，解決傳統(tǒng)放射檢測的掃查

厚度及檢測效率局限性，節(jié)約探傷成本；

→ 集A掃、B掃成像、C掃成像、P掃成像、TOFD成像、

導波成像等多能一體；

→合成孔徑聚焦技術，領潮行業(yè)，提高缺陷

測量精度；

→ 波形相位穩(wěn)定，信噪比高，缺陷識別更清晰；

→ 內(nèi)置現(xiàn)場檢測工藝模型，自動生成檢測工藝；

→ 便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查，滿足各

種工件檢測要求；

→ 多通道TOFD檢測實現(xiàn)大厚壁焊縫一次性覆蓋；

→ 超大機內(nèi)存儲空間及便捷的文件網(wǎng)絡傳輸功能；

→ 高分子復合材料機身，防震、抗跌落；

→ 集成數(shù)據(jù)電纜，裝卸方便，信號傳輸損耗??；

→ 高性能安保鋰電，模塊插接，一機兩電，超長續(xù)航。

B探傷功能

掃查方式：對焊縫進行非平行、平行掃查

缺陷定位：分析軟件直接讀出缺陷位置、、自身高度

缺陷顯示：直觀顯示缺陷在工件中的位置及上下端點

Ａ型掃描：射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力

Ｂ掃成像：實時顯示缺陷截面形狀

Ｃ掃成像：實時顯示缺陷俯視成像

Ｄ掃成像：實時顯示缺陷的灰度掃查圖，直觀顯示缺陷并對

缺陷質(zhì)量進行評價

Ｐ掃成像：實時空氣超聲定位，對缺陷進行三維描述，提高

缺陷判性準確率

導波成像：對薄壁工件進行一維掃查，獲取二維成像

C 掃描范圍

多路TOFD檢測和PE檢測覆蓋200ｍｍ厚度以內(nèi)的分區(qū)

掃查；可擴展至400ｍｍ厚度。

D 數(shù)據(jù)分析

直通波去除：近表面缺陷專用處理工具，提高近表缺陷分析精度

橫豎調(diào)整：滿足不同現(xiàn)場操作習慣

ＳＡＦＴ：guo際gong認提高缺陷測量精度的功能

E數(shù)據(jù)存儲與輸出

→預先調(diào)校好各類探頭與儀器的組合參數(shù)，方便存儲、調(diào)出、離線分析、

復驗、打印、通訊傳輸。

→超大內(nèi)存容量，單次掃查可多記錄40米。

→掃查圖像、文件可根據(jù)使用要求自動保存、自動編名。

→支持雙USB拷貝、網(wǎng)絡傳輸、外接顯示器等。

■技術參數(shù)：

頻帶寬度：0.3-22MHz

脈沖電壓：－400Ｖ

脈沖前沿：<10ns

重復頻率：1000Hz（每通道）

平均次數(shù)：8

采樣      ：512，1024

匹配阻抗：25，500

檢波方式：數(shù)字檢波

增益范圍：0dB－110dB波形顯示方式：射頻波，

檢波（全檢、負或正半檢波），

信號頻譜（FFT）

掃描延時：0~500us可控0.008us精度

掃查定位：時基（內(nèi)置實時時鐘-0.02秒精度）/真實位置（增量編碼器-0.5mm精度）

成像模式：根據(jù)選擇的操作模式和相應的儀器配置及設置顯示連續(xù)A掃、B掃成像、C掃成像、TOFD成像、P掃成像、導波成像

直線掃查長度：0-40米

記錄方式：wan全原始數(shù)據(jù)記錄

離線分析：恢復和回放掃查時記錄的A掃波形

缺陷尺寸測量和輪廓描述

厚度/幅度數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析

記錄轉(zhuǎn)換到ASCⅡ/MS Word/MS Excel

數(shù)據(jù)報告：直接打印A掃、頻譜圖、B掃圖象、C掃圖象、TOFD圖象、P掃圖象、導波檢