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200導體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于:企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據.
更新時間:2025-10-25
產品型號:BX-Y1248
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更新時間:2025-10-25
產品型號:BX-Y1247E
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更新時間:2025-10-25
產品型號:BX-Y1247D
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更新時間:2025-10-25
產品型號:BX-Y1247C
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更新時間:2025-10-25
產品型號:BX-Y1247B
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更新時間:2025-10-25
產品型號:BX-Y1247A
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